トレイから電子デバイスを自動的にテスターへ供給し、テスト結果に基づいて自動的に分類収納する装置です。
特長
- RFIC向けテストハンドラー装置
- パワー系高周波FETの多品種少量生産に最適
- 画像処理による高精度位置決め機能
- テスターとの通信PHI対応可能
基本仕様
| PKGサイズ | □3～□30mm |
|---|---|
| 対象トレイ | JDECトレイ |
| 同時測定数 | 1個 |
| 測定環境 | 常温 |
| タクトタイム* | 4秒／IC |
| 電源 | 単相 AC100V±10% 50/60Hz |
| 圧空源 | Dry air 0.4Mpa以上 |
| 装置寸法（W×D×H） | 1,100 × 800 × 1,400mm |
| 装置重量 | 約300kg |
* 弊社基準のプロセス条件の場合
